Veritas neu im Vertrieb von Sibress: höchste Präzision für die Messung von Aniloxwalzen
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Sibress, Hersteller von Mess- und Analysesystemen zur Qualitätssicherung im Flexo- und Verpackungsdruck aus Starnberg bei München, hat jetzt zusätzlich zu den eigenentwickelten Produkten den Vertrieb des Messmikroskops Veritas der Firma MicroDynamics, USA, übernommen.
Die entsprechende Distributionsvereinbarung wurde für den gesamten europäischen Raum sowie angrenzende Länder getroffen. Sibress hat bereits seit 2011 das weltweit führende Weißlicht-Interferometer MD3Dqc im Vertrieb.
Die technologische Besonderheit des völlig neu entwickelten Systems liegt in seiner Anwendungsvielfalt und Präzision. So wird bei der Ermittlung der Messergebnisse Weißlicht-Interferometrie eingesetzt. Dieses Verfahren nutzt die Interferenz eines breitbandigen Lichts als Referenz zur Abtastung des Objektes. Die Robustheit und mechanische Präzision des optischen Mikroskopsystems erlauben eine Auflösung von bis zu 0,25 μm.
Die eigens für das System neu entwickelten 10x- und 20x-Mikroskopoptiken von Nikon decken den Lineaturbereich zwischen 25 und 800 L/cm (60–2.000 lpi) ab. Besonderes Augenmerk wurde bei der Neuentwicklung auf eine anwenderfreundliche Benutzeroberfläche gelegt. Die intuitive Bedienerführung der Software ermöglicht dem Anwender, die Oberfläche von Aniloxzylindern ohne Vorkenntnisse zu analysieren.
Vollautomatische Analyse in nur zwei Schritten
Nach dem Aufsetzen des Veritas Mikroskops beträgt die typische Zeit vom Scan-Start bis zur Auswertung aller erfassten Daten inkl. 3D-Bild weniger als 10 Sekunden. Einmalige Fokussierung der Oberfläche ermöglicht es, bei weiteren Messungen die Fokusschärfe automatisch zu finden.
In der Auswertung werden alle relevanten Daten, wie zum Beispiel Zelltiefe, Volumen, Winkel, Oberflächenbeschaffenheit/-rauheit, Wandstärke, Öffnungswinkel und vieles mehr angezeigt.
Genauso einfach erfolgt danach die Protokollierung der Messergebnisse. Nach der Auswertung stehen sowohl die Messwerte als auch das 3D-Bild der Messung im Protokoll für die Speicherung oder den Ausdruck bereit. So lassen sich Einzelmessungen durchführen oder mit der integrierten Abweichungsanalyse zwei Messungen vergleichen. Des Weiteren lassen sich Protokolle in einer Datenbank ablegen, um Messergebnisse unterschiedlicher Perioden zu vergleichen. So kann sehr schnell erfasst werden, ob die Aniloxwalzen noch für ihren Einsatz geeignet sind.
Kalibration ab Werk
Das Messsystem wird kalibriert geliefert. Bei Bedarf kann eine von MicroDynamics zertifizierte Kalibrationswalze erworben werden, die als Referenz zur Überprüfung des Systems dient.
Das System läuft unter Windows 10 Professional und nutzt USB 3 für den schnellen Datentransfer.
Im Lieferumfang enthalten ist das Messmikroskop mit der Standard-20x-Optik (50–800 L/cm / 120–2.000 lpi), Kabeln und einem Rechner mit vorinstallierter Veritas Software.
Weitere Informationen über das 3D-Messmikroskop und das gesamte Produktprogramm von Sibress sind zu finden unter www.sibress.com.
Das Veritas Messsystem wird erstmalig auf der Labelexpo Europe in Brüssel auf dem Stand von Sibress in Halle 3, Stand 3A27, vorgeführt.
